应用程序的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
授权
摘要

本发明实施例公开了一种应用程序的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质,其中该方法包括:获取本机正在运行的应用程序的缺陷检测结果,缺陷检测结果包括应用程序的标识和缺陷标识;根据缺陷检测结果,获取应用程序的当前运行信息,当前运行信息至少包括当前运行界面的图片和当前运行界面的视频之一;发送应用程序的标识、缺陷标识、应用程序的当前运行信息和本机的设备信息。本发明实施例可以实现应用程序的标识、缺陷标识、应用程序的当前运行信息和本机的设备信息的一键上传,节省了时间,提高了应用程序出现缺陷时的运行信息和本机设备信息的上传效率。

基本信息
专利标题 :
应用程序的缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109558331A
申请号 :
CN201811535289.1
公开(公告)日 :
2019-04-02
申请日 :
2018-12-14
授权号 :
CN109558331B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
何颖
申请人 :
瑞庭网络技术(上海)有限公司;上海瑞家信息技术有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区上海自由贸易试验区东方路1217号13层、15层
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN201811535289.1
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-03 :
授权
2019-04-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20181214
2019-04-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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