一种产品缺陷检测系统
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摘要
一种产品缺陷检测系统，涉及产品缺陷检测技术，包括载台、光源、光调制器、图像获取装置和图像处理装置；所述载台配置为承载待检产品；所述光调制器配置为对来自所述光源的入射光进行调制后，发射到所述待检产品的待检区域；所述图像获取装置设置在所述载台的上方，配置为获取及输出所述待检产品的待检区域的图像信息；所述图像处理装置配置为接收所述图像获取装置输出的图像信息，并确定所述待检产品的缺陷信息。本实用新型实施例的检测系统，通过设置的光调制器来对光源发出的光进行调制，以改变照射在待检产品上的光的照射方向，从而可以对待检产品的待检区域的不同位置进行检测，如此，可减少光源的设置数量，且可降低对光源位置调整的频率。
基本信息
专利标题 ：
一种产品缺陷检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021422182.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-17
授权号 ：
CN212514235U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
兰荣华王志东周丽佳唐浩周全国
申请人 ：
京东方科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路10号
代理机构 ：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人 ：
解婷婷
优先权 ：
CN202021422182.9
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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