一种非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置，包括安装单元和测量单元，安装单元包括第一托盘、第二托盘、第一空心杆、第二空心杆和光纤准直器；测量单元包括依次连接的波长扫描光源、第一光纤耦合器和第三光纤耦合器，还包括依次连接的第二光纤光栅、第一光纤光栅、第二光纤耦合器、第二光电探测器、A/D转换器和计算机。本实用新型的非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置提高了被保护层膨胀变形量测量的便利性、精度和稳定性。
基本信息
专利标题 ：
一种非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021855578.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-31
授权号 ：
CN212903074U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
李延河薛俊华李洪彪马骞袁占栋杜轩宏詹可亮白子良孙宝强
申请人 ：
西安科技大学;平顶山天安煤业股份有限公司六矿
申请人地址 ：
陕西省西安市雁塔中路58号
代理机构 ：
北京高沃律师事务所
代理人 ：
苏士莹
优先权 ：
CN202021855578.2
主分类号 ：
G01B11/16
IPC分类号 ：
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形，例如光学应变仪
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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