一种观测纳米材料的支架
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摘要

本实用新型涉及观测设备制造技术领域,尤其涉及一种观测纳米材料的支架。包括采用设置有镜柱、载物板、观察灯的配合,实现了当有较多个纳米材料同时需要观测时,将待观测的纳米材料按照观测顺序从下往上依次放置到载物板上,转动最下侧载物板,使限位块在转动槽滑动,到达第一滑动槽位置后将载物板下滑,使载物板到达限位槽位置,开启观察灯通过透光孔照射到待观测的纳米材料上,通过目镜对纳米材料进行观测后在最下侧转动槽转动载物板,使限位块到达第二滑动槽后下滑,放到载物台上,观测下一个载物板上纳米材料的功能,解决了每次只能对一个纳米材料进行观测,料费时费力且容易在多个纳米材料更换观测的过程中出现重复观测或记录错误的问题。

基本信息
专利标题 :
一种观测纳米材料的支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021856344.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-31
授权号 :
CN213069330U
授权日 :
2021-04-27
发明人 :
李彬
申请人 :
河北岱洛新材料科技有限公司
申请人地址 :
河北省石家庄市高新区天山南大街585号日中天创新科技园B1-39
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021856344.X
主分类号 :
G02B21/34
IPC分类号 :
G02B21/34  G02B21/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
G02B21/34
显微镜载物片,例如,在载物片上安装试样
法律状态
2021-04-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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