供给装置及测定系统
授权
摘要
本实用新型提供供给装置及测定系统。该供给装置(20)使装置简化且提高测定精度，其向测定装置(10)供给试样和溶剂，上述测定装置(10)提取液体试样所含有的测定对象物并对该测定对象物的浓度进行测定，上述供给装置(20)具备：试样导入路径(L11)，其导入液体试样；溶剂导入路径(L12)，其导入溶剂；共通供给路径(L2)，其一端与试样导入路径(L11)和溶剂导入路径(L12)连接，另一端与测定装置(10)连接；送液机构(P1)，其使用共通供给路径(L2)向测定装置(10)供给液体试样和溶剂。
基本信息
专利标题 ：
供给装置及测定系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021921870.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-04
授权号 ：
CN212780850U
授权日 ：
2021-03-23
发明人 ：
山本麻由佳高坂亮太
申请人 ：
株式会社堀场先进技术
申请人地址 ：
日本京都府京都市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
周爽
优先权 ：
CN202021921870.X
主分类号 ：
G01N35/10
IPC分类号 ：
G01N35/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
G01N35/10
用于将样品传送给、传送入分析仪器或从分析仪器中输出样品的装置，例如吸入装置、注入装置
法律状态
2021-03-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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