一种应用于分光密度仪的扫描系统
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摘要
一种应用于分光密度仪的扫描系统，包括分光密度仪、基座板、滑轨座板、横移驱动组件、纵向移动机构、纵向导轨和竖向移动机构，竖向移动机构分别与基座板、滑轨座板连接，驱使基座板、滑轨座板进行竖向相对移动，光分密度仪上安装有滑轨卡座，分光密度仪通过滑轨卡座可拆式安装在滑轨座板上，横移驱动组件安装在基座板上，分光密度仪通过滑轨卡座与横移驱动组件连接，驱动分光密度仪横向移动，基座板与纵向导轨可拆式连接，纵向移动机构安装在基座板上，驱动基座板相对纵向导轨移动，本扫描系统能够进行六个方向移动，便于扫描机扫描，且本扫描系统的结构紧凑，可拆分式安装，便于用户携带，并且可以根据用户需求随时取下扫描仪进行手持式扫描。
基本信息
专利标题 ：
一种应用于分光密度仪的扫描系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021929936.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-07
授权号 ：
CN212568459U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
项建龙葛赛均沈世杰陈杭
申请人 ：
杭州科雷智能印刷科技有限责任公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山经济技术开发区金一路875号
代理机构 ：
浙江千克知识产权代理有限公司
代理人 ：
黎双华
优先权 ：
CN202021929936.X
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N21/01 G01J3/28 G01J3/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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