一种用于射线探伤的探伤系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种用于射线探伤的探伤系统,包括铅房、设置在铅房上的铅房入口和铅房出口、能够在铅房入口与铅房出口之间往复移动的检测平台、设置在铅房内且能够向检测平台发射射线的射线发生器和通过检测平台转运的托盘。本实用新型的有益效果是:本方案能够利用射线进行探伤而提高零件的检测效率和检测精度,利用检测平台携带装有零件的托盘在射线的照射范围内移动,有利于实现连续、自动化检测,并且避免工作人员暴露在辐射区而受到辐射,利用铅房也能够对射线起到隔离的作用,从而保证在现场操作的工作人员的安全。

基本信息
专利标题 :
一种用于射线探伤的探伤系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021939684.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-08
授权号 :
CN213302043U
授权日 :
2021-05-28
发明人 :
刘辉熊长江李培杨立涂欧杨
申请人 :
绵阳市奥派科技有限公司
申请人地址 :
四川省绵阳市科创区创新中心2号楼316室
代理机构 :
成都九鼎天元知识产权代理有限公司
代理人 :
钱成岑
优先权 :
CN202021939684.9
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G21F7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2021-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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