一种γ射线探伤设备
授权
摘要

本申请涉及无损检测的领域,尤其是涉及一种γ射线探伤设备,其包括防辐射箱体、设置在防辐射箱体内的检测台与放射性箱体及设置在防辐射箱体外侧的处理器,所述防辐射箱体远离检测台一端设置有转动连接的门板所述放射性箱体上连接有设置于检测台上方的检测探头,所述放射性箱体与处理器相连接,所述处理器上设置有控制按钮和检测结果显示屏。本申请在防辐射箱体内对检测工件进行检测,减少了检测过程中γ射线对检测人员的损害,提升了γ射线探伤设备的检测安全性,同时减少了检测过程中其他射线对检测结果的干扰,使γ射线探伤设备的检测更准确。

基本信息
专利标题 :
一种γ射线探伤设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022126463.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-24
授权号 :
CN213398263U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
齐红光杨宇翔梁春涛李梦哲李静科刘乐
申请人 :
河北冀安华瑞无损检测技术有限公司
申请人地址 :
河北省石家庄市新华区中华北大街298号颐宏大厦B座1309、1310、1311、1318室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022126463.6
主分类号 :
G01N23/02
IPC分类号 :
G01N23/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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