电激元器件光信号采集装置、光参数测试装置及设备
授权
摘要

本实用新型公开了电激元器件光信号采集装置、光参数测试装置及设备。所述电激元器件光信号采集装置包括,固定连接于机架的测试电极,用于对电激元器件导通电流;支撑部,沿第一方向正对应所述测试电极并沿第一方向运动连接于所述测试电极;采用将电激元器件主动靠近测试电极并导入电荷的方式,便于保证电激元器件相对于测试电极的平整度,从而保证测试的准确度。

基本信息
专利标题 :
电激元器件光信号采集装置、光参数测试装置及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021955726.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-09
授权号 :
CN212586432U
授权日 :
2021-02-23
发明人 :
韦日文杨应俊沈杰刘振辉
申请人 :
矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙城工业园3号厂房三楼东区、五楼中西区
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021955726.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/26  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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