一种分光光度计光谱测试多角度治具
授权
摘要
本实用新型提供一种分光光度计光谱测试多角度治具，包括底座和指针片，底座的一面上设置有刻度盘，刻度盘上设置有若干个刻度尺，在底座上，以刻度盘的圆心为中心，分别刻出0度到360度一整圈的刻度，然后连接件穿过安装孔设置于圆心的一面上，且连接块与连接件活动连接。因此，当需要测量不同角度的光谱信息，只需调整指针片在底座上的方向，也就是调整指针片在刻度盘上所指向的刻度，然后再对指针片进行固定，再将整个治具放入至分光光度计测试底座，就可以开始测试光谱。很好地避免要测试其他角度的光谱信息就需要跟换其他角度测试治具，且来回跟换很麻烦的问题，避免每次有新角度产品都需要重新定做新的治具而导致成本增加的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种分光光度计光谱测试多角度治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021973496.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-10
授权号 ：
CN213275316U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
王杰陈伟
申请人 ：
惠州市鼎新光电有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市惠城区水口街道办事处统昇东路5号(厂房B)
代理机构 ：
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李莹
优先权 ：
CN202021973496.8
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/31 G01B5/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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