一种定位检测机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种定位检测机构包括定位机构及检测机构，定位机构与检测机构组装为可移动的一体化结构；定位机构与检测机构水平高度一致，所述检测机构固定，定位机构承载待检测元件沿水平方向往复运动。所述检测机构包括检测机架和3D扫描器，所述3D扫描器设于检测机架顶部，3D扫描器为3D检测相机。定位机构包括定位机架、固定板和移动平台；固定板设于定位机架顶部，移动平台设于定位机架底部以驱动定位机架沿水平方向移动。将定位机构与检测机构结合，在控制平台的作用下定位机构搭载待检测元件移动至靠近检测机构的设定位置处，通过检测机构的3D扫描器进行扫描，以检测待测元件的外形轮廓是否合格，提高了自动化生产线的自动程度。
基本信息
专利标题 ：
一种定位检测机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022023367.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-15
授权号 ：
CN212378713U
授权日 ：
2021-01-19
发明人 ：
潘剑飞张荣镪肖鹏
申请人 ：
深圳市宇道机电技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道水田第四工业区赛联工业园A栋1楼A
代理机构 ：
深圳市精英专利事务所
代理人 ：
涂年影
优先权 ：
CN202022023367.9
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2021-01-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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