一种光线发生装置及检测系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种光线发生装置及检测系统,该光线发生装置包括非平行的第一光线出射面和第二光线出射面,当使用本文的光线发生装置对晶圆边缘区域的靠近上表面边缘区段位置进行检测时,第一光线出射面可以大致与上表面边缘区段平行,因第二光线出射面光滑内凹曲面,平面与第二光线出射面的相接拐弯部可以与上表面和上斜面的转折部位置相对;这样第二光线出射面发射至转折部的光线的角度减小,这样该部分光线的出射光线也相应向内收拢,有利于汇聚于成像装置的成像通孔中,以获得转折部的清晰成像,进而保证了根据成像分析待测边缘区域的缺陷信息的可靠性。

基本信息
专利标题 :
一种光线发生装置及检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022142523.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-25
授权号 :
CN213068673U
授权日 :
2021-04-27
发明人 :
刘健鹏范铎陈鲁周伟东张嵩
申请人 :
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
李带娣
优先权 :
CN202022142523.3
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-04-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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