光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测装置。其包括检测壳体以及传送带，采样光路的光线能入射到检测位置的硅太阳电池上；硅太阳电池反射的光线经采样光路能进入光纤耦合器内，且在光纤耦合器内能与参考光路返回的光线产生光学干涉，通过与所述光纤耦合器连接的光电探测器能采集所述光纤耦合器输出的能反映后向散射强度的光学干涉信号；光电探测器将所采集的光学干涉信号处理后得到检测扫描信号，并将所述检测扫描信号传输至图像处理器内，图像处理器根据检测扫描信号能建立检测位置上硅太阳电池的三维结构信息。本实用新型能有效检测确定硅太阳电池的隐裂、缺陷等不良状况，提高产品的合格率，智能化程度高，安全可靠。
基本信息
专利标题 ：
光学相干纵向分层扫描硅太阳电池的质量检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022152805.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-27
授权号 ：
CN212514309U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
邵剑波席曦刘桂林
申请人 ：
江南大学
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区蠡湖大道1800号
代理机构 ：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
殷红梅
优先权 ：
CN202022152805.1
主分类号 ：
G01N21/892
IPC分类号 ：
G01N21/892 G01N21/01 H02S50/15
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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