一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备，包括操作台和第二通孔，所述操作台的上端固定有第一滑轨，且第一滑轨的上端设置有水平基座，所述水平基座的上端固定有第二滑轨，且第二滑轨的上端设置有推板，所述推板的一侧固定有夹持板，且推板的另一侧设置有限位块，所述水平基座的一侧固定有支架，且支架的一侧设置有刻度尺，所述第一通孔的一侧设置有第二通孔，且第一通孔的内部设置有升降柱，所述第二通孔的一侧设置有第二调节钮。该具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备设置有水平基座和第一滑轨，可以便于进行待测量电子组件的放置，避免出现难以放置的问题，便于操作且实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022195993.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-29
授权号 ：
CN213208846U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
田林刘斐
申请人 ：
无锡雷菲电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市惠山区堰桥街道堰丰路26-1
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022195993.6
主分类号 ：
G01B5/06
IPC分类号 ：
G01B5/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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