一种高效率自动测试结构
授权
摘要

本实用新型涉及一种高效率自动测试结构,它包括:支撑组件,所述支撑组件包括底板以及与所述底板相垂直固定的立板;移动组件,所述移动组件包括间隔固定在所述立板侧面的滑轨、滑动连接在所述滑轨上的滑板以及固定在所述立板侧面且用于带动所述滑板滑动的第一驱动装置;升降组件,所述升降组件包括可升降地安装在所述滑板上的升降板以及固定在所述滑板上且用于带动所述升降板升降的第二驱动装置;测试组件,所述测试组件包括安装在所述底板上的载台以及固定在所述升降板下方且用于测试所述载台承载的产品的测试模组。本实用新型高效率自动测试结构自动化程度高、测试结果准确、测试效率高、节省了人工的资金投入,节约成本。

基本信息
专利标题 :
一种高效率自动测试结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022204484.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
CN213364965U
授权日 :
2021-06-04
发明人 :
薛来辉
申请人 :
昆山周晋电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇环庆路2299号4号房2楼
代理机构 :
苏州根号专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
仇波
优先权 :
CN202022204484.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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