一种基于光纤位移传感器的位移测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于光纤位移传感器的位移测量装置，包括基座，基座的一端设置有立柱，立柱上部活动设置有横梁，横梁上远离立柱的一端活动设置有固定套筒，固定套筒内套设有光纤位移传感器，光纤位移传感器下方设置有试件定位机构，试件定位机构包括相对设置的第一定位块和第二定位块，第一定位块与第二定位块之间设置有夹持槽，第一定位块与第二定位块朝向夹持槽的侧面上分别开设有相对设置的第一V型槽和第二V型槽。本实用新型的测量装置采用的光纤位移传感器，实现了非接触式检测，可以精准测量试件微小延展变形位移量；立柱和横梁均由石英玻璃制成，能进一步减小温度变化导致的试件位移量误差。
基本信息
专利标题 ：
一种基于光纤位移传感器的位移测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022221294.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
CN213363685U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
徐科王海忠范建校
申请人 ：
西安兴航航空科技股份有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市阎良区航空基地航空一路55号
代理机构 ：
西安恒泰知识产权代理事务所
代理人 ：
李婷
优先权 ：
CN202022221294.4
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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