可提高自动测试机资源利用率的测试通讯电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种可提高自动测试机资源利用率的测试通讯电路，该电路设有与探针台连接并通信的自动测试机，所述自动测试机设有多个测试通道，所述自动测试机的各个测试通道分别与一个单通道测试结果处理电路连接，所述相邻的两个单通道测试结果处理电路的输出信号两两合并至双通道测试结果处理电路，相邻的两个双通道测试结果处理电路的输出信号再两两合并，直至将所有通道的输出信号合并至总通道测试结果处理电路，所述总通道测试结果处理电路与探针台连接并通信。本实用新型可在不增加成本的情况下提高中低端自动测试机的并行测试效率，具有结构简单，测试效率高，测试信号稳定性高，抗干扰性强等特点。
基本信息
专利标题 ：
可提高自动测试机资源利用率的测试通讯电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022243813.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-10
授权号 ：
CN213091822U
授权日 ：
2021-04-30
发明人 ：
禹乾勋
申请人 ：
深圳市华力宇电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402
代理机构 ：
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李捷
优先权 ：
CN202022243813.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
