一种利用光学测试对立平面平行度检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种利用光学测试对立平面平行度检测装置，包括电脑计算显示设备，所述电脑计算显示设备通过数据线连接有可发出平行光束的自准直仪，所述自准直仪通过导线连接有用于提供点亮自准直仪的光源，所述自准直仪沿其光束传输方向设有可将光束一分为二向两个方向射出的转角棱镜，所述自准直仪底部固定连接有底座，所述底座下表面安装有支杆，所述支杆下端外表面加工有第一外螺纹，所述支杆加工第一外螺纹的一端螺纹连接有内螺纹筒，所述支杆上的外表面开设有圆孔，所述圆孔内设有水平布置的调节螺杆，该一种利用光学测试对立平面平行度检测装置可以达到快速调整转角棱镜与自准直仪之间的相对位置，提高检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种利用光学测试对立平面平行度检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022246074.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-09
授权号 ：
CN212963244U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
黄飞标石栋高维科
申请人 ：
西安耀通光电科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区唐延南路东侧逸翠园-西安(二期)第1幢1单元18层11830房
代理机构 ：
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 ：
尹均利
优先权 ：
CN202022246074.7
主分类号 ：
G01B11/27
IPC分类号 ：
G01B11/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/27
••用于检测轴线准直
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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