一种组合光源取像装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种组合光源取像装置，包括至少一个设置在支撑台外围的外壁取像单元，支撑台用于放置待检测的工件，外壁取像单元包括光源组件及取像组件，取像组件包括相机支架及设置在相机支架上的相机，相机用于对工件的壁面进行取像，光源组件用于对工件周围打光；面光源的中部设有取像孔，供相机的镜头通过；光源组件包括面光源和位于面光源两侧的条形光源，面光源与条形光源形成组合光源。组合光源取像装置可以应用在工件表面缺陷检测设备上，针对工件外周面检测的工位上。利用相机对工件表面进行取像，图像信息传回控制主机进行分析，实现自动检测工件外周面的质量；光源组件，可以对工件周围打光，利于清晰取像。
基本信息
专利标题 ：
一种组合光源取像装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022253249.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-10
授权号 ：
CN213209939U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
叶卫国赵鲸旭
申请人 ：
中兴盛达电气技术（郑州）有限公司
申请人地址 ：
河南省郑州市高新技术产业开发区电子电器产业园西区9号楼6单元5层40号
代理机构 ：
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭鸿宾
优先权 ：
CN202022253249.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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