一种可多面取像的芯片检测光源
授权
摘要
本实用新型公开了一种可多面取像的芯片检测光源，包括安装板，所述安装板包括相互平行的安装板上表面和安装板下表面，且所述安装板上表面和安装板下表面通过安装板侧表面，所述安装板上表面设置有壳体和用于固定相机的相机固定架。本实用新型利用灯板发光照射到待检测物体上，产生的反光再通过棱镜体和反光板反射到相机固定架位置，即可通过设置相机来捕捉光线实现检测，由于用于反光的棱镜体在具体使用时，反射镜面是环绕整个待检测物件的，因此可以实现周向全方位反射，进而实现一次检测多个面，速度快，效率高。
基本信息
专利标题 ：
一种可多面取像的芯片检测光源
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020050256.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-01-10
授权号 ：
CN211697450U
授权日 ：
2020-10-16
发明人 ：
王晶晶何燕杰何红华邓皓匀许欢甜
申请人 ：
东莞锐视光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市东城区主山振兴路333号A106
代理机构 ：
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡国英
优先权 ：
CN202020050256.4
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-10-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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