一种用于宽能区裂变截面测量的多层快裂变室
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摘要

本实用新型提出了一种用于宽能区裂变截面测量的多层快裂变室,包括腔体,在所述腔体上对称设置中子窗,所述中子窗自带屏蔽层,所述中子窗设置双密封槽,以保证膜稳固及密封性能,所述腔体侧面设置至少一个接口,所述腔体内部设置多个相互独立的裂变室单元,多个相互独立的裂变室单元相互平行的固定于一侧的中子窗的窗盖上,裂变室单元内部通过特氟龙(聚四氟乙烯)隔环隔开各个电极。本实用新型能够装多个裂变样品、结构材料少,结构简单,有效地减少了散射中子的影响,时间响应快,输出脉冲的上升时间短,能够准确给出信号、裂变碎片的探测效率高、使用方便,工作状态稳定。

基本信息
专利标题 :
一种用于宽能区裂变截面测量的多层快裂变室
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022269450.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-13
授权号 :
CN214704019U
授权日 :
2021-11-12
发明人 :
羊奕伟刘荣任智洲温中伟文杰韩子杰陈琪萍
申请人 :
中国工程物理研究院核物理与化学研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市919信箱201分箱
代理机构 :
北京元本知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王红霞
优先权 :
CN202022269450.4
主分类号 :
G01T1/34
IPC分类号 :
G01T1/34  G01N23/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/34
测量截面,例如,测量粒子的吸收截面
法律状态
2021-11-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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