一种内存条加工用金手指通电检测设备
授权
摘要

本发明公开了一种内存条加工用金手指通电检测设备,涉及内存条加工技术领域,包括内存条主体和引导装置,所述内存条主体内部的一端设置有金手指本体,本发明通过辅助装置的设置,可从整个主体的后端利用传送带对所需检测的内存条主体进行上料,无需使用者单个的对内存条主体进行拿取检测,有效节省对内存条主体的检测时间,通过传送可使得内存条主体传送至放置板体的外部,可利用观察装置的设置观察内存条主体外部受损情况进行筛选,不合格的内存条主体可利用电动推杆的作用使得放置板体沿着滑道的水平方向进行移动,从而放置内存条主体的两个放置板体自动进行分离,方便后续对内存条主体进行收集和再加工。

基本信息
专利标题 :
一种内存条加工用金手指通电检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022289077.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
CN213934074U
授权日 :
2021-08-10
发明人 :
胡蓓肖威何坤浩
申请人 :
重庆数智源智能装备科技有限公司
申请人地址 :
重庆市渝北区龙溪街道佳园路66号银海北极星1幢4-商业2B区101号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202022289077.9
主分类号 :
G01R31/01
IPC分类号 :
G01R31/01  G01R31/54  G01R31/66  G01R1/02  G01R1/04  G01N21/88  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试,例如在成批生产中的“过端—不过端”测试;当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2021-08-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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