一种PCB金手指外观检测机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种PCB金手指外观检测机构，属于PCB检测装置技术领域，包括底板、升降杆、安装板，所述的升降杆底部固定连接于底板上，所述的安装板滑动安装于升降杆上，所述的安装板上设置有感应微晶探针阵列，所述的感应微晶探针端部设置有方形垫片，所述的感应微晶探针上部设置有弹性件，通过探针长度变化，感应电阻差异，从而检测出金手指外观高度不良，本实用新型通过阵列排布的方形探针对金手指外观高度进行检测，并且方形探针在检测过程中可以防止对金手指表面造成针孔、划伤等不良。
基本信息
专利标题 ：
一种PCB金手指外观检测机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921426555.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-30
授权号 ：
CN210570477U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
王欣冯娇娇贺仁虎
申请人 ：
智恩电子(大亚湾)有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市大亚湾响水河工业园
代理机构 ：
惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨光
优先权 ：
CN201921426555.7
主分类号 ：
G01B7/34
IPC分类号 ：
G01B7/34 G01N27/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/315
••用于检测轮子的准直
G01B7/34
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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