存储卡耗电特性用测试装置
授权
摘要
本实用新型属于电子元器件测试领域，为了解决现有技术缺少对存储卡耗电状态检测的专用装置，本实用新型提供一种存储卡耗电特性用测试装置，其包括：电源模块、电流侦测模块、读卡器模块、读卡器电源调节开关、测试结果输出模块、电源大小调节模块，读卡器电源调节开关位于电源模块和读卡器模块之间，电源大小调节模块与电源模块电连接，根据电源大小调节模块的设置参数，读卡器模块能够接收不同的电压值；电流侦测模块与读卡器模块电连接，监控存储卡对应的工作电流值；测试结果输出模块与电流侦测模块通信连接。因此，该测试装置能够提供不同的电压环境，达成变动电压供应、监测电流变化，实现普通读卡器无法做到的检测功能。
基本信息
专利标题 ：
存储卡耗电特性用测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022357275.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-21
授权号 ：
CN213183606U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
汪明中
申请人 ：
厦门旌存半导体技术有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市中国(福建)自由贸易试验区厦门片区（保税港区）海景南二路45号4楼03单元F0100
代理机构 ：
北京康达联禾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗延红
优先权 ：
CN202022357275.4
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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