一种超低功耗的MCU测试装置
授权
摘要
本申请公开了一种超低功耗的MCU测试装置，包括放置板、放置柜、固定座、脚轮、高度调节机构以及固定机构；其中所述放置板底侧固定连接有放置柜，所述放置柜底侧固定连接有脚轮，所述放置板顶侧固定连接有固定座；所述高度调节机构包括伺服电机、固定板、螺纹杆、移动板、连接杆、放置座以及防滑条，所述伺服电机固定连接在放置台底侧表面，所述伺服电机输出端连接有螺纹杆，所述放置柜底部侧表面固定连接有固定板，所述螺纹杆表面螺纹连接有移动板，所述螺纹杆底端贴合在固定板顶侧表面，所述移动板底侧固定连接有连接杆；所述固定机构包括连接座、螺纹柱、连接板、转动板、压板以及弹性橡胶凸块。该种超低功耗的MCU测试装置设计新颖、结构简单。
基本信息
专利标题 ：
一种超低功耗的MCU测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022379183.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
CN213544707U
授权日 ：
2021-06-25
发明人 ：
王伟
申请人 ：
无锡梓轩电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市经开区星汇商务广场3-10-320
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
党蕾
优先权 ：
CN202022379183.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-06-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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