一种低功耗设备电量测试方法及系统
授权
摘要
本发明提供一种低功耗设备电量测试方法及系统，方法包括：标定设备在小负载下的电压初始值，所述初始值包括电压值V、所述电压值在的区间Vregion、所述电压区间的权重Vweight；按照预设时间间隔采集大负载下的放电电压以及对应的电量区间Vcurrent，并根据所述Vcurrent和当前电量Vup之间的大小关系，调整电压区间和各个区间对应的权重值，以评估出设备电量。本发明实施例提供的一种低功耗设备电量测试方法及系统，在不增加任何额外成本和功耗的情况下，结合时间和大负载发生频度，小负载持续时间动态的调整各项权重，有效的评估了电池的电量。
基本信息
专利标题 ：
一种低功耗设备电量测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111505423A
申请号 ：
CN202010364265.5
公开（公告）日 ：
2020-08-07
申请日 ：
2020-04-30
授权号 ：
CN111505423B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
王西刚吴华意刘睿恒李倩
申请人 ：
武汉拓宝科技股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖高新区高新大道999号未来城龙山创新园一期F1栋1001单元
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202010364265.5
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R19/165
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-09-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20200430
申请日 : 20200430
2020-08-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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