一种位置型内孔粗糙度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种位置型内孔粗糙度测量装置，包括粗糙度仪本体，粗糙度仪本体包含测头和数据线，该位置型内孔粗糙度测量装置还包括定位轴、手柄、测头保护罩、导向柱、连接块、后封盖和压盖，定位轴安装在手柄上，定位轴前端安装测头保护罩，定位轴外侧安装导向柱，连接块安装于粗糙度仪本体的前端，连接块固定连接手柄的前端，后封盖安装于手柄尾部，压盖固定安装在后封盖上用于与后封盖配合固定粗糙度仪本体尾部的数据线。本实用新型具有结构简单合理和定位准确快捷优点，可避免放入时工件与测头发生碰撞；操作简单快捷，大大提高了手动检测粗糙度的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种位置型内孔粗糙度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022403977.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-26
授权号 ：
CN213481303U
授权日 ：
2021-06-18
发明人 ：
胡亚刚张超胡晓阳王冠
申请人 ：
成都世工测控科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市新都区高新技术产业园旺隆路
代理机构 ：
深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李绍飞
优先权 ：
CN202022403977.1
主分类号 ：
G01B21/30
IPC分类号 ：
G01B21/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/30
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2021-06-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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