一种位置型间断细长孔粗糙度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种位置型间断细长孔粗糙度测量装置，包括测杆保护罩、垫板、定位键、限位块和手柄放置座，测杆保护罩通过螺钉安装固定在粗糙度仪本体上用于对测针进行保护，所述垫板上设置有用于安装定位键的定位槽，手柄放置座固定在垫板上，定位键通过螺钉安装固定在垫板上，限位块通过螺柱安装于手柄放置座上，手柄通过螺钉安装固定在手柄放置座上。本实用新型具有结构简单合理、定位准确快捷的优点，避免放入时工件与测针发生碰撞，操作简单快捷，大大提高了手动检测粗糙度的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种位置型间断细长孔粗糙度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022319304.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-17
授权号 ：
CN213632058U
授权日 ：
2021-07-06
发明人 ：
胡亚刚张超胡晓阳王冠
申请人 ：
成都世工测控科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市新都区高新技术产业园旺隆路
代理机构 ：
深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李绍飞
优先权 ：
CN202022319304.8
主分类号 ：
G01B21/30
IPC分类号 ：
G01B21/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/26
••用于检测轮子的准直度
G01B21/30
用于计量表面的粗糙度或不规则性
法律状态
2021-07-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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