一种基于游标精度的接触轨几何参数测量尺
授权
摘要
本实用新型涉及一种基于游标精度的接触轨几何参数测量尺，包括用以实现对接触轨夹持测量的测量主尺、测量尺固定臂以及用以实现对近接触轨侧钢轨夹持测量的测量尺固定夹具，所述的测量主尺呈H型，并且与测量尺固定臂一端嵌套连接，所述的测量尺固定夹具可旋转调节的与测量尺固定臂另一端连接。与现有技术相比，本实用新型具有同时测量导高值和拉出值、提高测量精度、便于调节和安装等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种基于游标精度的接触轨几何参数测量尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022414114.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN213657681U
授权日 ：
2021-07-09
发明人 ：
孙睿吴传奇赵屹昀谭亚杰宋会龙李立明陈兴杰
申请人 ：
上海工程技术大学
申请人地址 ：
上海市松江区龙腾路333号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨宏泰
优先权 ：
CN202022414114.4
主分类号 ：
G01B3/18
IPC分类号 ：
G01B3/18 G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B3/1094
用于记录信息或执行计算
G01B3/18
千分尺
法律状态
2021-07-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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