记录量程数显测量设备
授权
摘要

本实用新型公开了一种记录量程数显测量设备,记录量程数显测量设备包括探针、传动机构、芯片、存储器以及显示器;探针配置为能够接触待测量表面并根据待测量表面的凹凸起伏沿自身轴线方向移动以保持接触待测量表面;传动机构配置为能够将探针移动的距离转换为电信号并将电信号传输至芯片;芯片配置为能够将电信号转换为测量数值并能够经过比较而产生最大测量数值和最小测量数值;存储器配置为能够接收并记录芯片产生的最大测量数值和最小测量数值;显示器配置为能够显示当前测量数值、最大测量数值和最小测量数值。本实用新型的记录量程数显测量设备能够有效地记录历史测量数值和当前测量数值,并能够将上述测量数值精确地显示出来。

基本信息
专利标题 :
记录量程数显测量设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022438982.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-28
授权号 :
CN213543504U
授权日 :
2021-06-25
发明人 :
王涛
申请人 :
捷普电子(新加坡)公司
申请人地址 :
新加坡淡滨尼工业区16号
代理机构 :
北京润平知识产权代理有限公司
代理人 :
李健
优先权 :
CN202022438982.6
主分类号 :
G01B21/02
IPC分类号 :
G01B21/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-06-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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