大量程线位移光栅数显测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型是一种线位移光栅数显测量仪。属于对大量程光栅数显测量仪的改进，特别是对其测量长度给以任意扩展。其特征在于以单根短标尺光栅测量长的或是超长的线位移，选择标尺光栅运动，采用多个读数头递推互锁读数。本实用新型较好地解决了增大光栅位移数显测量仪量程时所遇到的困难。本实用新型可用于大型机床或仪器的直线位移测量的数控、数显上。与已有接长技术相比具有明显的社会效益与经济效益。
基本信息
专利标题 ：
大量程线位移光栅数显测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN91214108.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1991-01-31
授权号 ：
CN2089613U
授权日 ：
1991-11-27
发明人 ：
林祥棣李永德阮丽江叶盛祥
申请人 ：
中国科学院光电技术研究所
申请人地址 ：
四川省成都市双流350信箱
代理机构 ：
中国科学院成都专利事务所
代理人 ：
张一红
优先权 ：
CN91214108.5
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1996-03-20 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-07-29 ：
授权
1991-11-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
