微机细分和误差补偿式光栅数显仪
专利申请的视为撤回
摘要
一种微机细分和误差补偿式光栅数显仪，由光栅测量头、微机控制电路、W/8周期内细分电路、八细分脉冲计数电路、数显及键盘控制电路和具有断电保护的读写存储器等组成。利用微机细分原理和误差补偿方法，使光栅数显仪具有高分辨率、高细分精度和强的误差补偿能力，不但能补偿累积误差，还能补偿阿贝误差并具有快速计数电路，最高测量速度可达15米/分，电路结构简单，造价较低。可用于位移量的精密测量和机床加工时，检测、控制位移精度。
基本信息
专利标题 ：
微机细分和误差补偿式光栅数显仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1064933A
申请号 ：
CN92101795.2
公开（公告）日 ：
1992-09-30
申请日 ：
1992-03-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
周千怐王炳源张季平
申请人 ：
杭州电子工业学院
申请人地址 ：
310037浙江省杭州市文一街65号
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
林怀禹
优先权 ：
CN92101795.2
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1995-02-15 ：
专利申请的视为撤回
1992-09-30 ：
公开
1992-09-09 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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