一种集中测量系统
授权
摘要
本实用提供一种集中测量系统，包括一组万用表，还包括处理终端，在每一块万用表中均设置有与处理终端通信的通信模块，各万用表利用其通信模块将测量的数据实时传送给处理终端，所述的处理终端对各万用表测量的数据进行处理。本发明中多块万用表通过与处理终端的通信实现实时将检测数据上传处理终端进行实时同步处理。
基本信息
专利标题 ：
一种集中测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022443460.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-28
授权号 ：
CN214310656U
授权日 ：
2021-09-28
发明人 ：
李昕
申请人 ：
深圳市众仪电测科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福海街道和平社区福园一路和景工业区第2栋厂房.201
代理机构 ：
深圳市世通专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘付靖
优先权 ：
CN202022443460.5
主分类号 ：
G01R15/12
IPC分类号 ：
G01R15/12 G08C17/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R15/12
•用于多功能测试器的电路，例如按需要测量电压、电流或阻抗
法律状态
2021-09-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
