一种悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置,属于测试装置技术领域,其包括升降控制柜,所述升降控制柜的正面分别卡接有控制按钮开关、升降速度调速器和结构高度显示仪,所述升降控制柜的上表面与主支架的底端固定连接,所述主支架的外表面活动连接有径向偏差百分表和轴向偏差百分表,所述径向偏差百分表位于轴向偏差百分表的下方。该悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置,通过设置有轴向偏差百分表和拉线编码器,通过径向偏差百分表对盘型绝缘子的盘径进行测量,通过轴向偏差百分表对盘型绝缘子的轴直径进行测量,通过拉线编码器对盘型绝缘子的高度进行测量,提高了测量的数据精确度,操作简单,测试方便。

基本信息
专利标题 :
一种悬式瓷、玻璃绝缘子结构高度的测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022453160.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-29
授权号 :
CN213021360U
授权日 :
2021-04-20
发明人 :
卢燕龙周敏杰蔡洪付张国晶李海涛
申请人 :
武汉耀能科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷芯中心三期(2014-071)4-02幢4层2厂房单元
代理机构 :
上海精晟知识产权代理有限公司
代理人 :
冯子玲
优先权 :
CN202022453160.5
主分类号 :
G01B5/06
IPC分类号 :
G01B5/06  G01B5/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B5/06
用于计量厚度
法律状态
2021-04-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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