用于检测晶圆吸盘残留异物的线扫描光学检测系统
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摘要

一种用于检测晶圆吸盘残留异物的线扫描光学检测系统,利用一移动模块使晶圆吸盘沿一移动方向移动。当晶圆吸盘移动至被检测光束所照射的位置时,利用一线扫描图像获取模块沿一扫描线对晶圆吸盘进行线扫描以获取一晶圆吸盘检测图像。若晶圆吸盘上残留有异物时,检测光束投射至异物与晶圆吸盘的至少一交界边缘后,因异物与晶圆吸盘的反射条件不同而在晶圆吸盘检测图像中呈现出至少一异物边界轮廓,藉由晶圆吸盘检测图像是否存在异物边界轮廓,可判断晶圆吸盘上是否仍残留有异物。藉由将本实用新型,可在现有晶圆处理制程设备狭窄的内部空间中精确检测出晶圆吸盘上是否存在异物,使异物清除工作能更有效率地进行。

基本信息
专利标题 :
用于检测晶圆吸盘残留异物的线扫描光学检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022487411.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-02
授权号 :
CN213580716U
授权日 :
2021-06-29
发明人 :
谭培汝沈铭兴陈建宾
申请人 :
致茂电子(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区竹园路9-1号狮山工业园六号厂房
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
张燕华
优先权 :
CN202022487411.1
主分类号 :
G01N21/94
IPC分类号 :
G01N21/94  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/94
研究污染,例如灰尘
法律状态
2021-06-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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