超低阻值片式电阻器产中测量装置
授权
摘要
超低阻值片式电阻器产中测量装置，机架(1)上安装检测电表(2)、电脑主机(3)、显示器(4)和定位平台(5)，定位平台(5)上安置放料平台(7)，放料平台(7)上安装PCB(9)，PCB(9)上安装夹持装置(10)，夹持装置(10)上夹持测针(6)，测针(6)与PCB(9)连接。可以实现多个规格的料片测试，测试完成后自动保存数据，确认了准确性，省时省力；机械强度高，体积小，重量轻。性能稳定，可靠性高。装配成本低，并与自动装贴设备匹配。
基本信息
专利标题 ：
超低阻值片式电阻器产中测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022496931.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-02
授权号 ：
CN213364881U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
吴术爱郝涛廖冬梅卢剑郑宇新王祚军刘艾萍
申请人 ：
昆山厚声电子工业有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山经济技术开发区龙腾路88号
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
郭春远
优先权 ：
CN202022496931.9
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN213364881U.PDF
PDF下载
