一种银胶阻值测量系统
授权
摘要

本实用新型提供一种银胶阻值测量系统,包括测试台、测试头、纵向移载机构、横向调节机构以及竖直驱动机构;纵向移载机构、横向调节机构、竖直驱动机构和测试头均设于测试台上;竖直驱动机构与横向调节机构相连接;测试头设于竖直驱动机构上。本实用新型提供的银胶阻值测量系统,通过在测试台上设有纵向移载机构和横向调节机构,从而对屏幕面板的纵向位置以及测试头的横向位置进行调节,使得测试头与屏幕面板上的银胶位置上下对齐;再者,测试头在竖直驱动机构的驱动下,向下移动至屏幕面板并与屏幕面板的银胶相接触,使得测试头与屏幕面板的银胶电路导通,从而可对屏幕面板的银胶阻值进行测量。

基本信息
专利标题 :
一种银胶阻值测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922014939.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-20
授权号 :
CN211043513U
授权日 :
2020-07-17
发明人 :
冯凯吴志艺
申请人 :
厦门恺成精密机械有限公司
申请人地址 :
福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔岳路47号第一层102室
代理机构 :
厦门加减专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王春霞
优先权 :
CN201922014939.4
主分类号 :
G01R27/02
IPC分类号 :
G01R27/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2020-07-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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