一种低成本的高阻值电阻的测量系统及测量方法
公开
摘要
一种低成本的高阻值电阻的测量系统及测量方法。所述测量系统包括激励源、激励电阻、待测电阻以及电压检测模块；所述激励电阻与所述待测电阻相串联，所述激励电阻的一端与所述激励源相连、另一端与所述待测电阻的一端相连，所述待测电阻的另一端接地，所述电压检测模块连接于所述待测电阻的两端；其中，所述激励源用于输出稳定的测量电压，所述电压检测模块用于测量所述待测电阻两端的电压。所述测量系统及测量方法能够用于实时检测防静电台垫的接地情况，并测量防静电台垫的电阻，实施所述高阻值电阻测量系统及方法不需要用到重锤式表面电阻测试仪，可大幅节约测量成本。
基本信息
专利标题 ：
一种低成本的高阻值电阻的测量系统及测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518489A
申请号 ：
CN202011317047.2
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2020-11-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨宏银黄宇
申请人 ：
深圳长城开发科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区彩田路7006号
代理机构 ：
深圳市顺天达专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭伟刚
优先权 ：
CN202011317047.2
主分类号 ：
G01R27/14
IPC分类号 ：
G01R27/14 G01R27/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/14
通过测量从一基准源所得到的电流或电压来测量电阻值
法律状态
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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