一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片
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摘要
本实用新型公开了一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片，在保证仪器测量精度及测量设备之间一致性上实现了突破性的创新，采用本实用新型中的用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片克服了现有射线法颗粒物监测仪器校准周期长、校准膜片制作工艺复杂、在不同地区或不同气候环境下测量值不准的问题；用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片作为监测仪器的一部分，颗粒物监测仪通过测量穿过两张面密度不同的标准膜片的β粒子计数可对设备的um进行校准，从而使仪器测得的颗粒物浓度更加准确。
基本信息
专利标题 ：
一种用于射线法颗粒物监测仪的校准膜片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022499012.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-03
授权号 ：
CN214150328U
授权日 ：
2021-09-07
发明人 ：
邓龙龙周宗斌兰芳芳袁野王乾坤化利东吕峰陈品品徐传超
申请人 ：
安徽安光环境科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区天达路71号华亿科学园C幢401-1室
代理机构 ：
安徽合肥华信知识产权代理有限公司
代理人 ：
余成俊
优先权 ：
CN202022499012.7
主分类号 ：
G01N15/06
IPC分类号 ：
G01N15/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2021-09-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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