β射线颗粒物监测仪的去除干扰装置

授权

摘要

本公开提供一种β射线颗粒物监测仪的去除干扰装置。去除干扰装置包括：壳体，内部为密闭的空腔，采样机构和采样平台位于空腔内，壳体包括与空腔连通的采样口、进气口和出气口，采样机构的采样管由采样口伸出；加热片，位于空腔内，用于加热；制冷片，位于空腔内，用于制冷；温度传感器，位于空腔内，用于检测空腔内的温度；湿度传感器，位于空腔内，用于检测空腔内的湿度；湿度处理单元，连接壳体的进气口和出气口，用于对空腔内的气体进行加湿或除湿；控制单元，分别连接加热片、制冷片、温度传感器、湿度传感器和湿度处理单元。本公开的去除干扰装置，避免温度、湿度对β射线颗粒物监测仪的影响，提高监测结果的准确性。

基本信息

专利标题：

β射线颗粒物监测仪的去除干扰装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921581637.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-09-20

授权号：

CN211179437U

授权日：

2020-08-04

发明人：

敖小强罗武文金陈祎张伟

申请人：

北京雪迪龙科技股份有限公司

申请人地址：

北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号

代理机构：

北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘兴

优先权：

CN201921581637.9

主分类号：

G01N15/06

IPC分类号：

G01N15/06