颗粒物监测仪
授权
摘要
一种颗粒物监测仪(10)，包括：纸带(1)，供颗粒物富集于其上；光学识别设备(2)，构造成能识别纸带上的光学标识；走纸装置(3)，包括供纸盘(31)和集纸盘(32)以及驱动机构，驱动机构构造为驱动纸带成从供纸盘(31)经过光学识别设备(2)到达所集纸盘(32)；控制器，构造成与光学识别设备相关联；其中，光学标识包括透光孔，光学识别设备(2)在识别出透光孔时向控制器发送电信号，控制器能基于接收到的电信号控制走纸装置(3)，以使得纸带走过一预定距离。该颗粒物监测仪(10)在确保纸带走纸距离为走纸步长的同时简化了走纸装置，并能提供对纸带(1)的剩余长度的监测。
基本信息
专利标题 ：
颗粒物监测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922205826.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-04
授权号 ：
CN211669014U
授权日 ：
2020-10-13
发明人 ：
陆之平杨非吴华伟方军张晓涛
申请人 ：
赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区秦桥路211号T71-6幢第一、二层东侧
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
胡晓萍
优先权 ：
CN201922205826.2
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2020-10-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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