颗粒物监测仪
授权
摘要
本申请涉及一种颗粒物监测仪。该颗粒物监测仪包括：采样测量单元，用于测量基准滤片的空白计数值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；移动单元，用于移动待检测滤带；数据处理单元，用于对测量得到的基准滤片的空白计数值进行数据处理获得基准值；存储单元，用于存储基准值；比较单元，用于比较基准值和待检测滤带的空白斑点的空白计数值；判断单元，用于根据比较结果判断待检测滤带的质量。本申请颗粒物监测仪能自动判断使用的滤带是否为合格滤带以及滤带的均匀性，避免生产过程中的误差导致的滤带问题，提高β射线法颗粒物监测仪最终的监测准确性。
基本信息
专利标题 ：
颗粒物监测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020168688.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-13
授权号 ：
CN212341055U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
敖小强罗武文郭玉龙李四寿
申请人 ：
北京雪迪龙科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号
代理机构 ：
北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张羽
优先权 ：
CN202020168688.5
主分类号 ：
G01N23/12
IPC分类号 ：
G01N23/12 G01N15/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/12
材料是流动的流体或流动的颗粒状固体
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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