用于检测分析物的方法
公开
摘要

本发明提供一种用于检测样品中的分析物的方法,该方法包括以下步骤:一种用于检测样品中的分析物的方法,该方法包括以下步骤:(i)向一种装置提供包括样品和报告试剂的混合物,该装置包括具有光学组件和连接在基板表面上的结合组件的基板;(ii)通过结合组件,使一部分报告试剂根据分析物的浓度成比例地结合到基板表面;(iii)用电磁辐射辐照所述装置以进行报告试剂的光敏剂的吸收,使得结合的报告试剂部分的光敏剂与光学组件相互作用以使光学组件从第一光学状态变化为第二光学状态,从而在基板上形成具有第二光学状态的光学组件的局部区域集;以及(iv)检测基板上具有第二光学状态的局部区域集。

基本信息
专利标题 :
用于检测分析物的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114341621A
申请号 :
CN202080059580.5
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-06-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
S·A·罗斯P·B·莫纳亨J·理查兹A·J·麦格崔克
申请人 :
PSYROS诊断有限公司
申请人地址 :
英国肯特
代理机构 :
北京北翔知识产权代理有限公司
代理人 :
孙占华
优先权 :
CN202080059580.5
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/17  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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