用于自冲铆钉(SPR)接合部的无损质量控制检查的过程
公开
摘要
提供了一种用于通过接合部的计算机断层成像(CT)扫描来检查组件的系统和方法，该组件包括通过自冲铆钉接合的部件。该系统包括：X射线源；安装单元，该安装单元用于包括接合部的组件，该接合部经受X射线；以及X射线检测器，该X射线检测器设置成与源相反以用于检测X射线。以至少200kV的高能级提供X射线以生成具有至少200微米(μm)分辨率的图像。计算机将图像拼接在一起，以形成示出接合部细节的重建图像。要检查的组件在检查过程之前不会被破坏或修改。由X射线生成的图像的分辨率足够高，以确定未修改组件的裂纹、互锁部(SH)、最小厚度(Tmin)以及整体结构的存在，如果该裂纹存在的话。
基本信息
专利标题 ：
用于自冲铆钉(SPR)接合部的无损质量控制检查的过程
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114303055A
申请号 ：
CN202080060630.1
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2020-08-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
兰迪·S·贝亚尔斯
申请人 ：
麦格纳国际公司
申请人地址 ：
加拿大安大略省
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄霖
优先权 ：
CN202080060630.1
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046 G01N23/02 G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
