分光测定装置
实质审查的生效
摘要
本发明通过物镜(15)将从物体面(S)的测定点发出的光整合为一个平行光束，通过移相器(19)将该平行光束分割为第一光束和第二光束，对该第一光束与该第二光束之间赋予光路长度差，并且使该第一光束和该第二光束朝向光检测器(21)的受光面射出。在与物镜(15)相关并与物体面光学共轭的面配置有遮光板(13)，只有通过了该遮光板(13)的透光部的光去向物镜(15)。基于物镜的焦距、从移相器(19)到光检测器(21)的受光面的距离、光检测器的像素间距、像素的长度以及从测定点发出的光的波长范围内包含的规定波长，来设定遮光板(13)的透光部的横向长度、相邻的两个透光部的间隔。
基本信息
专利标题 ：
分光测定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114341602A
申请号 ：
CN202080061774.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-08-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
石丸伊知郎
申请人 ：
国立大学法人香川大学
申请人地址 ：
日本香川县
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN202080061774.9
主分类号 ：
G01J3/32
IPC分类号 ：
G01J3/32 G01J3/453
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
G01J3/30
直接从光谱本身测量谱线强度
G01J3/32
利用单个检测器顺序地测试谱带
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/32
申请日 : 20200828
申请日 : 20200828
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
