集成光学装置中的增加的发射收集效率
实质审查的生效
摘要
描述了用于改良集成装置中的光学信号收集的设备及方法。微盘(1‑605)可在集成装置中形成且增加了入射于该微盘(1‑605)上并由该微盘(1‑605)再辐射的辐射的收集及/或浓度。可包含微盘(1‑605)的示例性集成装置可用于分析物检测及/或分析。此集成装置可包含多个像素，该多个像素各自具有用于接收待分析样本的反应室(1‑130)、光学微盘(1‑605)及被配置为检测来自该反应室(1‑130)的光学发射的光学传感器(1‑122)。微盘(1‑605)可包括具有第一折射率的介电材料，该介电材料嵌入于具有一或多个不同折射率值的一或多种周围材料(1‑610)中。
基本信息
专利标题 ：
集成光学装置中的增加的发射收集效率
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114514420A
申请号 ：
CN202080069903.9
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2020-08-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿里·卡比里沈冰杰勒德·施密德詹姆斯·比奇凯尔·普雷斯顿沙拉特·侯萨利
申请人 ：
宽腾矽公司
申请人地址 ：
美国康涅狄格州
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
谭营营
优先权 ：
CN202080069903.9
主分类号 ：
G01N21/63
IPC分类号 ：
G01N21/63 G01N21/64 G01N21/77 G02B6/122 G02B6/136 H01L27/146 H01L31/0232
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/63
申请日 : 20200806
申请日 : 20200806
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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