处理装置以及绕组温度计算模型的决定方法
公开
摘要
处理装置取得在进行用于使绕组的温度上升至规定温度的电压施加的状态下作为该绕组的温度的上升推移的第一上升推移和作为温度传感器的检测温度的上升推移的第二上升推移，基于第二上升推移，计算规定参数来决定规定温度特性模型，并且，基于第一上升推移，计算绕组关联参数来决定绕组温度特性模型。
基本信息
专利标题 ：
处理装置以及绕组温度计算模型的决定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114585890A
申请号 ：
CN202080073190.3
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-10-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
田中政仁福原仁惠木守大野悌
申请人 ：
欧姆龙株式会社
申请人地址 ：
日本国京都府京都市
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
方冬梅
优先权 ：
CN202080073190.3
主分类号 ：
G01K13/00
IPC分类号 ：
G01K13/00 G05B19/05 G06F30/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01K
温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件
G01K13/00
特殊用途温度计
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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