用于存储测试系统中的设备接口的校准数据的方法、设备接口、...
公开
摘要
描述了一种用于测试一个或多个被测设备的测试系统，该测试系统包括一个或多个通道模块和设备接口。其中，至少校准数据的第一部分的信息被存储在与一个或多个通道模块相关联的非易失性存储器上，并且至少校准数据的第二部分的信息被存储在与设备接口相关联的非易失性存储器上。还描述了相应的方法和计算机程序。
基本信息
专利标题 ：
用于存储测试系统中的设备接口的校准数据的方法、设备接口、测试系统和计算机程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114585933A
申请号 ：
CN202080073969.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-06-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
小岛昭二
申请人 ：
爱德万测试公司
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
桑敏
优先权 ：
CN202080073969.5
主分类号 ：
G01R31/319
IPC分类号 ：
G01R31/319
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/319
••••测试器硬件，即输出处理电路
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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