基于热辐射探测器的测温方法、装置及热辐射探测器
公开
摘要
一种基于辐射探测器(11)的测温方法、装置(12)及热辐射探器(11)。该方法包括：获取快门(32A)处于打开状态时热辐射探测器(11)采集到的探测图像(40)；热辐射探测器(11)包括快门(32A)和光敏元阵列(31)，快门(32A)处于打开状态时，光敏元阵列(31)被热辐射探测器(11)的预设元件(32)部分遮挡，以使得光敏元阵列(31)包括处于遮挡区域(31A)中的光敏元和处于非遮挡区域(31B)中的光敏元，处于非遮挡区域(31B)中的光敏元能够接收来自目标对象的热辐射；探测图像(40)包括对应于遮挡区域(31A)的第一图像区域(41)和对应于非遮挡区域(31B)的第二图像区域(42)(21)；参考第一图像区域(41)中的像素值，并根据第二图像区域(42)中的像素值(A1‑A10)，确定目标对象的温度(22)。该方法能够减少开关快门(32A)的次数，解决开关快门(32A)过于频繁的问题。
基本信息
专利标题 ：
基于热辐射探测器的测温方法、装置及热辐射探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114616445A
申请号 ：
CN202080074055.0
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈超帅江宝坦李想曹子晟李琛夏斌强
申请人 ：
深圳市大疆创新科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新南区粤兴一道9号香港科大深圳产学研大楼6楼
代理机构 ：
北京太合九思知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘戈
优先权 ：
CN202080074055.0
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G01J5/08 G01J5/48
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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