检查技术设施中负载电路的方法
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摘要

本发明涉及一种用于检查设施中的控制系统的负载电路的方法,所述控制系统包括具有至少一个负载单元的至少两个负载电路、控制单元(SE)和时钟控制的电源(SV)。所述电源(SV)经由至少两个输出通道(A1‑A8)向所述至少两个负载电路提供供电电压或供电电流。通过所述控制单元(SE)的控制信号来操控所述输出通道(A1‑A8)。首先为每个预给定的设施状态确定(101)电流或电压的参考值,其中在预给定的设施状态中,接通至少一个输出通道(A1‑A8)并且向每个关联的负载电路提供所述供电电压的预给定电压值或所述供电电流的预给定电流值。存储(102)为所述预给定的设施状态确定的参考值。然后在自测试阶段期间,针对每个预给定的设施状态,在至少一个接通的输出通道(A1‑A8)上测量(103)在所述供电电压的每个预给定电压值时的当前电流值或在所述供电电流的每个预给定电流值时的当前电压值,以及检查(104)在预给定的设施状态之一中,当将各自当前测量的值与各自对应的存储的参考值进行比较时是否偏离预给定的容差范围。如果在一个设施状态中偏离了所述容差范围,则显示(105)对应的关联的负载电路。

基本信息
专利标题 :
检查技术设施中负载电路的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114585931A
申请号 :
CN202080076059.2
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2020-08-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
H·施维格特
申请人 :
西门子股份公司
申请人地址 :
德国慕尼黑
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
张涛
优先权 :
CN202080076059.2
主分类号 :
G01R19/165
IPC分类号 :
G01R19/165  G01R31/00  G01R31/55  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
G01R19/165
指示电流或电压高于或低于预定值,或者是处于预定的数值范围之内或之外
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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